Нахождение распределения электронов в сверхрешетках AlGaAs/GaAs с узкими барьерами методом вольт-фарадного профилирования

Е. И. Василькова; Е. В. Пирогов; М. С. Соболев; А. И. Баранов; А. С. Гудовских; А. Д. Буравлев

Для цитирования:

Василькова Е.И., Пирогов Е.В., Соболев М.С., Баранов А.И., Гудовских А.С., Буравлев А.Д. Нахождение распределения электронов в сверхрешетках AlGaAs/GaAs с узкими барьерами методом вольт-фарадного профилирования. Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. 2022;22(6):1092-1097. https://doi.org/10.17586/2226-1494-2022-22-6-1092-1097

For citation:

Vasilkova E.I., Pirogov E.V., Sobolev M.S., Baranov A.I., Gudovskikh A.S., Bouravleuv A.D. Determination of the electron distribution in thin barrier AlGaAs/GaAs superlattices by capacitance-voltage profiling. Scientific and Technical Journal of Information Technologies, Mechanics and Optics. 2022;22(6):1092-1097. (In Russ.) https://doi.org/10.17586/2226-1494-2022-22-6-1092-1097

Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.

ISSN 2226-1494 (Print)
ISSN 2500-0373 (Online)

Логин
Пароль
	Запомнить меня
Регистрация нового пользователя Забыли Ваш пароль?

Войти

Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики

Для цитирования:

For citation:

Использование куки-файлов